532nm绿光激光光斑分析仪
卡门哈斯激光自主开发的基于CMOS的激光光束分析仪Multi BeamShape Quality Analyser OEM使用独特高效算法和技术，优化了UV至NIR波段的响应效率，由于其高的分辨率和小的像素尺寸，OEM型号光束分析仪确保了在对连续和脉冲激光光束测量分析时的高准确度。其即插即用的设计保证了设备的易兼容性和操作的简易型。此外OEM光束分析仪采用模块化设计，使用外加衰减装置，适用于各类产品检测，光路调试等应用场景。其具备光束宽度，光束形状，位置，能量强度分布，尺寸测量，M2检测等多种参数测试能力。测量光斑直径从15μm-3.5mm。可对光斑能量分布进行各类分析。
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本仪器使用USB3.0通用接口。
光斑分析仪仪器工作原理：光束分析仪是将入射到光束分析仪内的激光光束，经过内部光学系统，将其传输于CCD靶面。利用专业测量软件对精密光学尺传输的数据和实时影像画面进行图像数据处理，由操作者使用鼠标或键盘在电脑上进行观测判断和测量。
| 光束分析仪技术参数： | |
| 参数 | 数值 |
| 测量光斑直径范围 | 15µm~3.5mm |
| 像素 | 2.2µm x 2.2µm |
| 光谱范围 | 532nm&1030-1090nm |
| 激光功率 | 最大 500W@1064 CW(连接水冷) |
| 工作距离 | >210mm |
| 光束分析仪入光位置光斑直径 | ＜12mm |
| 入射光 NA | ＜0.03 |
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